蔡司邀您相约长春国际光电博览会：以"光"为尺，启质控未来

2025年6月10日至13日，长春国际光电博览会即将启幕。在全球光电与半导体产业高速发展的浪潮下，蔡司工业质量解决方案将携创新成果、旗舰机型首度亮相展会，与行业共探精密制造的质控新篇章！

产业跃迁催生检测变革

作为中国光电产业的“发源地”，长春近年来不断推动光电信息产业集群集聚，培育发展光电信息产业的新质生产力。而随着5G通信、智能驾驶、新型显示等技术的突破，推动着半导体器件走向更小制程、光电元件趋向更高集成度。微米级结构检测、纳米级缺陷捕捉、全流程数据追溯，已成为产业升级的必经之路。蔡司深谙此道，以180余年光学技术积淀，成为半导体产业破局微观检测困局的「光之刃」。以光电联用解决方案为引擎，驱动故障分析从“事后追溯”迈向“前瞻预判”。这不仅是对半导体设备质量控制的革新，更是为产业升级构筑一条坚不可摧的“质量护城河”。

邀请函

2025年长春国际光电博览会

时间： 6月10日—13日

地点： 长春东北亚国际博览中心

展位号：A1馆C04

部分检测解决方案抢先看

看点1 光学部件高精度解决方案

挑战及需求

挑战1：传统VMM测量方式是使用定制小球放入V型槽里来获取中心，效率较低

挑战2：普通三坐标很难保证微米级别高精度、高重复性的测量结果

需求1：测量镜片同轴度以及圆度如何保证有高效，高精度，高重复性的结果？

需求2：镜头模具微米级别的精度，怎样保证测量结果的准确性？

蔡司解决方案

硬件：PRISMO 9/15/7 verity

软件：CALYPSO

优势1：ZEISS CALYPSO 自定心功能

优势2：蔡司旗舰型高精度坐标测量机，精度可达0.7um,VAST gold的测头分别率可达50nm

看点2 承载盘标准机解决方案

挑战及需求

挑战1：解决目前图纸全尺寸测量需要VMM、CMM、千分尺、高度规等多种测量仪器，效率低下，精度也难以保证的问题

挑战2：提升测量效率，保证测量精度

需求1：图纸全尺寸测量

需求2：高精度测量机可作为标准机来使用

蔡司解决方案

硬件：O-INSPECT 8/6/3 DUO

软件：CALYPSO

优势1：多测头复合式测量机满足各种需求

优势2：高精度测量机，可用于全尺寸测量，适用于平面及成型工件，对大型工件无损检测

优势3：适用于各种工件测量，无论是小型的还是大型

更多蔡司高效质量解决方案

6月10日—13日，蔡司与您相约长春东北亚国际博览中心A1-C04展位。

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编辑：王佳慧

审核：吴晓兰