我国科学家实现基于主动光学强度干涉的合成孔径成像

据中国科学技术大学，该校潘建伟、张强、徐飞虎等人联合美国麻省理工学院、中国科学院西安光学精密机械研究所等单位，首次提出并实验验证了主动光学强度干涉技术合成孔径技术，实现了对1.36公里外毫米级目标的高分辨成像。实验系统的成像分辨率较干涉仪中的单台望远镜提升约14倍。该成果5月9日在国际学术期刊《物理评论快报》发表。（央视新闻）