沈阳中科数控申请基于改进Franklin矩的亚像素边缘检测方法专利,大幅度减少边缘检测所需时间

金融界2025年5月9日消息,国家知识产权局信息显示,沈阳中科数控技术股份有限公司申请一项名为“一种基于改进Franklin矩的亚像素边缘检测方法”的专利,公开号CN119941765A,申请日期为2023年11月。

专利摘要显示,本发明公开了一种基于改进Franklin矩的亚像素边缘检测方法。使用差分方法,对目标像素进行x,y两个方向上与临近像素进行差分计算并进行判断,通过判断结果采用不同方向上的卷积模版来计算结果,可以针对性的对有更强信息方向上进行计算,减少整幅图片参与卷积运算,减少无特殊含义方向上的无意义计算。并且通过偶数尺寸模版在边缘左右的像素灰度分布对称性更好的特性,推导计算Franklin矩的6×6模版并在目标像素进行区间判断,并采用相对应的卷积模版计算目标的亚像素值实验结果表明,通过减小Franklin矩的模版尺寸与减少需要计算的卷积模版数,大幅度的减少了边缘检测上所需要的时间。

天眼查资料显示,沈阳中科数控技术股份有限公司,成立于2005年,位于沈阳市,是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本8442万人民币。通过天眼查大数据分析,沈阳中科数控技术股份有限公司共对外投资了2家企业,参与招投标项目28次,财产线索方面有商标信息8条,专利信息218条,此外企业还拥有行政许可3个。

本文源自金融界

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更新时间:2025-05-11

标签:科技   边缘   数控   像素   专利   时间   沈阳   卷积   模版   股份有限公司   天眼   企业   信息   目标

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